MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀

概述：新的MiniTest700涂層測厚儀產(chǎn)品線，加強了德國EPK(Elektrophysik)公司在全球涂層測厚市場的領(lǐng)導(dǎo)地位。 - 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的精確性 - 測量范圍達15mm

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儀器儀表 > 無損檢測儀器 > 涂層檢測儀

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MiniTest725 MiniTest735 MiniTest745 MiniTest700 涂層測厚儀

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新的MiniTest700涂層測厚儀產(chǎn)品線，加強了德國EPK(Elektrophysik)公司在全球涂層測厚市場的領(lǐng)導(dǎo)地位。
- 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的精確性
- 測量范圍達15mm，可F、N或FN探頭，提供內(nèi)置或外接探頭
- FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯
優(yōu)點一覽

- SIDSP使測量不受干擾，測值更加精確
- 可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內(nèi)置換為外置)
- FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
- 溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
- 生產(chǎn)過程中50點校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
- 大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
- 讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
- 超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
- 菜單指引操作，25種語言可選
- 帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
- 可下載更新軟件
MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)
主機

主機型號	MiniTest720	MiniTest730	MiniTest740
探頭類型	內(nèi)置	外置	內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10	10	100
存儲數(shù)據(jù)量	最多10,000個	最多10,000個	最多100,000個
統(tǒng)計值	讀值個數(shù)、最小值、最大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)
校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范	ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式	出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點校準(zhǔn)、兩點校準(zhǔn)、三點校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補償值
極限值監(jiān)控	聲、光報警提示超過極限
測量單位	μm，mm，cm；mils，inch，thou
數(shù)據(jù)接口	IrDA 1.0(紅外接口)
電源	2節(jié)AA電池
標(biāo)準(zhǔn)	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC- PA 2
操作溫度 /存放溫度	- 10℃~60℃/- 20℃~70℃
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)

探頭特性		F1.5，N07，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
		F	N	F	F	N	F
測量范圍		0~1.5mm	0~0.7mm	0~2mm	0~5mm	0~2.5mm	0~15mm
使用范圍		小工件，薄涂層		粗糙表面	標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛		厚涂層
測量原理		磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)
信號處理		探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP)
精確度		±(1μm+0.75%讀值)		±(1.5μm+0.75%讀值)			±(5μm+0.75%讀值)
重復(fù)性		±(0.5μm+0.5%讀值)		±(0.8μm+0.5%讀值)			±(2.5μm+0.5%讀值)
低端分辨率		0.05μm		0.1μm			1μm
最小曲率半徑(凸)		1.0mm		1.5mm			5mm
最小曲率半徑	(凹，外置探頭)	7.5mm		10mm			25mm
	(凹，內(nèi)置探頭)	30mm		30mm			30mm
最小測量面積		Ø5mm		Ø10mm			Ø25mm
最小基體厚度		0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測量速度		每秒20個讀數(shù)
單值模式下最大測量速度		每分鐘70個讀數(shù)

[本信息來自于今日推薦網(wǎng)]

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