TDS540示波器產品描述 TDS540示波器產品指標： 500MHz帶寬 TDS540產品信息： 示波器 TDS540 ·500MHz帶寬 ·最高1GS/s采樣率 ·四通道 ·時間間隔、2ns毛刺、脈沖幅度異常， 邏輯圖及狀態觸發 ·1mV/格至10V/格靈敏度 ·無限余輝和可變余輝顯示 ·記錄長度每通道50,000點 ·8-bit垂直分辨率，高分辨率方式時 可提高至15bit ·1%垂直精度 ·可選FFT，微分及積分 ·25種參數自動測量 ·高分辨率彩色顯示 ·3.5”DOS兼容磁盤 信號采集系統 通道數：四個 數字化儀：四個 帶度：500MHz 靈敏度：1mV至/10V格 移位范圍：±5格 偏置±1V.1～99.5mV/格； 　　±10V,100mV～995mV/格； 　　±100V, 1～10V/格 最高采樣器：1GS/s 垂直系統 直流增益精度：±1.0% 垂直分辨率:8-bit（將10.24個垂直格分成256級） 模擬帶寬選擇：20MHz,100MHz或全帶寬 輸入耦合：交流,直流或接地 輸入阻抗:1MΩ/10pF或50Ω（交流或直流耦合） 最大輸入電壓：±400V(直流+交流峰值)、頻率高于1MHz時， 　　　　　　以20dB/倍頻程下降。1MΩ輸入阻抗或接地耦合。 通道間隔離：≥100MHz時，>100:1; >30:1兩通道之間有著相同 　　　　　　的電壓偏轉系數 AC耦合時低頻限制：≤10Hz,AC/1MΩ耦合時； 　　　　　　　　 ≤200KHz, AC/50Ω耦合時； 時基系統 時基：主時基，延遲時基 掃描速度：500ps至10s/格 時基精度：間隔大于等于1ms時為0.0025% 記錄長度：500至15000點（50000點選件1M） 預觸發位置：記錄0～100%間 采集方式 峰值檢測：捕捉高頻和隨機毛刺，在所有實時取樣方式下，捕捉大于等于4ns的毛刺。 取樣：只取樣數據 包絡：單次或多次采集到的最大/最小值 平均：可選擇2次至10000次平均 高分辨率：提高采集低頻信號的垂直分辨率和和減小噪聲，例如50μs/格或更慢時達12-bit 觸發系統 觸發器：主觸發，延遲觸發 主觸發方式：自動，常態，單次 延遲觸發：時間延遲，事件延遲或時間和事件延遲 時間延遲范圍：16ns至250s（掃描時間≤10μs） 　　　　　　 15.1ns至250s（掃描時間≥25μs） 事件延遲范圍：1至9,999,999個事件 外觸發輸入口：>1.5KΩ；最大直流加交流峰值輸入電壓為±20V。 顯示 波形類型：點陣或矢量，無限余輝或可變余輝，余輝時間為250ms至10s 灰度：16級亮度分級（可變余輝時）提供有關快變信號的‘Z　　軸’信息 更新率：無限余輝時，若每波形為500點，則每秒鐘更新200次 CRT類型：7寸，磁偏轉，水平光柵掃描，P4白色磷粉 分辨率：640×480 ZOOM（縮放） ZOOM特性可將波形放大，壓縮和進行水平，垂直位移，在不影響正常波形采集的情況下進行波形的精密比較和細微研究，與高分辨率或平均方式一起使用時，有效的垂直動態范圍為100格。 閾值：可以百分數或電壓值設定 門限：用垂直雙線可將記錄的任意部分隔離出來用于測量 快照：一次過完成單波形的25種參數測量，并即刻將結果顯示出來。 游標測量：絕對值，相對值，電壓，時間和頻率 游標類型：水平雙線（電壓）；垂直雙線（時間）；可獨立使用或在跟蹤方式下使用。 波形處理 波形函數：任選（Sinx/x或線性內插法，平均或包絡 先進的波形函數（選件）：FFT、微分、積分 算術運算：加、減、乘、反相 自動設置：單鍵完成，根據選定信號自動設置垂直、水平和觸發系統 自動極限測試：將輸入波形與參考波形的上、下限比較 計算機接口 GPIB（IEEE-488.2）可程控能力： 全聽/講功能：所有模式、狀態和測量均可控制。 存貯 波形：4個5000點之記錄，總共50000點。 狀態：十個前面板狀態 物理特性 尺寸：236mm(高)×445mm(寬) ×432mm長 重量：12.3公斤[本信息來自于今日推薦網]