通過國家質監總局科技鑒定（國際先進，國內領先）
TOFD Ⅱ級培訓考核儀器 可為您“量身”定制各類掃查裝置！
HS800 內置P掃描成像系統（聲定位掃查）
P掃描成像即投影成像，一改傳統機械編碼器定位方式，采用全新四通道聲定位系統，避免各種外界磁場干擾，對探頭聲束精確定位。內置閘門高度及DAC曲線兩種靈敏度成像模式，同時顯示C掃描圖像（俯視）、D掃描圖像（側視）、B掃描圖像（平視）、A掃描圖像，可對缺陷進行空間位置和形狀上的評估。
HS800性能特點
A 特優點
全中文菜單操作模式，方便快捷
超高亮彩色液晶顯示器
超聲衍射波探傷，解決傳統探傷單次掃查區域的局限性和不直觀性
缺陷A掃、厚度B掃、B掃、P掃、D掃全屏直觀顯示
便攜掃查器代替手工掃查，探傷更快、更精確
多通道TOFD探傷，實現焊縫非平行掃查一次性全面覆蓋
超大機內存儲空間，探傷數據回放及離線分析
高性能安保鋰電，模塊插接，一機兩電，超長續航
B 數字電路
采樣頻率：125M
頻率帶寬：0.5~15MHZ
采樣延時：1200mm
脈沖電壓：-400V
脈沖前沿：15ns
重復頻率：125HZ
匹配阻抗：25Ω、500Ω2檔可調
檢波方式：數字檢波方式
增益范圍：0dB~110dB（0.1dB、2.0dB、6.0dB步進，全自動調節）
閘門數：每通道2個位
C 掃描范圍
多路TOFD檢測和PE檢測全面覆蓋200mm厚度以內焊縫的分區掃查
D 探傷功能
掃查方式：可對焊縫進行全面的平行和非平行掃查
缺陷定位：數據分析線能直接讀出缺陷深度以及非點狀缺陷的自身高度
焊縫內部缺陷顯示：直觀顯示焊縫中缺陷的位置和上下端點位置
A型掃描：射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力
B型掃描：實時顯示缺陷截面形狀
D型掃描：實時顯示缺陷的灰度掃查圖，直觀顯示缺陷并對缺陷模式進行評價
E數據存儲與輸出
1通道、5通道、7通道三種可選，預先調校好各類探頭與儀器的組合參數，方便存儲、離線分析、復驗、打印、通訊傳輸
超大內存容量，單次掃查即能記錄長達2米被檢工件內部缺陷的檢測圖
支持USB、LAN、VGA輸出
HS800技術參數
獨立工作通道：可根據儀器配置選擇通道數，最多可選7個通道
最多連接探頭： 10
脈沖類型：負放電脈沖
增益范圍： 110dB（0.1dB、2.0dB、6.0dB步進，全自動調節）
聲速范圍：(300~20000)m/s
波形顯示方式：射頻波，檢波（全檢、負或正半檢波），信號頻譜（FFT）
掃描延時：0~500us可控0.008us精度
掃查定位：時基（內置實時時鐘-0.02秒精度）/真實位置（增量編碼器-0.5mm精度）
成像模式：根據選擇的操作模式和相應的儀器設置顯示厚度B掃、B掃、D掃、P掃、TOFD圖象
直線掃查長度：50~2000mm自動滾屏
記錄方法：完全原始數據記錄
離線分析：恢復和回放掃查時記錄的A掃波形
缺陷尺寸和輪廓
厚度/幅度數據統計分析
記錄轉換到ASCⅡ/MS Word/MS Excel格式報告
數據報告：直接打印校驗表、A掃、頻譜圖、厚度B掃圖象、B掃圖象、TOFD圖象、D掃圖象、P掃圖象[本信息來自于今日推薦網]